リユース機器セミナー

平成24年1月より、全自動水平型多目的X線回折装置「SmartLab」(設置部局:産業科学研究所 総合解析センター)がリユース共同利用機器として供用されます。
本装置は、集中光学系・平行ビーム光学系に加え、インプレーン光学系を搭載しており、粉末試料からナノメートルオーダーの極薄膜まで幅広い試料についてX線回折実験を行うことができます。
本セミナーでは、X線回折実験で可能な材料解析とその実際について、講義・実習を行います。皆様のご参加をお待ちしております。

また、平成24年度には産業科学研究所 総合解析センターの主催で、詳細な機器講習会を行いますので、そちらもあわせてご受講ください。

開催要項

■講義:最新材料解析に貢献するX線回折技術

日 時: 平成24年1月18日(水) 10:00~12:00 粉末X線回折・小角散乱測定
    1月19日(木) 10:00~12:00 薄膜X線開設
会 場: 産業科学研究所 管理棟1階 講堂
講 師:屋代 恒(1/18)、稲葉 克彦(1/19)(株式会社リガク)
内 容: X線回折実験は、粉末試料の定性・定量分析からナノサイズの粒子径・空孔径測定、 ナノ薄膜の膜厚・配向度測定など、幅広い材料の解析に用いることのできる手法です。
本講義では、X線回折を用いた種々の解析について概説し、講義の後半ではユーザーからの測定・解析などに対する技術相談を行います。
定 員: 各日とも50名

■実習A:インプレーン光学系を用いた薄膜X線回折

日 時: 平成24年1月19日(木) 13:00~15:00、15:15~17:15(各回とも同内容)
会 場: 産業科学研究所 総合解析センター203号室
講 師:屋代 恒(株式会社リガク)
内 容: インプレーン測定は、高輝度のX線を試料表面すれすれから入射し、検出器を試料縁辺を這うように移動させて測定する手法です。 X線の侵入深さがきわめて小さいことから、ナノメートルオーダーの極薄膜の測定や深さ方向の解析、配向度の測定に有効な手法です。
実習では、インプレーン測定による薄膜X線回折について、測定、データ解析を行います。

試料の持ち込みについても歓迎しますので、別途担当者までお問い合わせください。
定 員: 各回とも5名

■実習B:集中光学系・平行ビーム光学系を用いた粉末X線回折

日 時: 平成24年1月18日(木) 13:00~15:00
会 場: 産業科学研究所 総合解析センター203号室
講 師:屋代 恒(株式会社リガク)
内 容: 粉末(多結晶)試料の測定には、迅速な測定が可能な集中光学系と、詳細な測定に適した平行ビーム光学系があり、目的に応じて使い分けられます。
実習では、集中光学系・平行ビーム光学系を用いた粉末試料の測定を行い、データベースを用いた定量・定性分析を行います。

試料の持ち込みについても歓迎しますので、別途担当者までお問い合わせください。
定 員: 各回とも5名

■実習C:小角散乱配置によるX線小角散乱測定

日 時: 平成24年1月18日(木) 15:15~17:15
会 場: 産業科学研究所 総合解析センター203号室
講 師:屋代 恒(株式会社リガク)
内 容: X線小角散乱(SAXS)は、試料に照射したX線のうち散乱角が小さいものを測定することで物質の構造情報を得る手法です。 小角散乱測定により、試料の配向度やナノスケールの粒径測定、空孔測定、膜厚の分析などが可能です。

実習では試料の持ち込みについても歓迎しますので、別途担当者までお問い合わせください。
定 員: 各回とも5名


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役職
学部生 院生(修士) 院生(博士) 教職員

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受講希望欄(受講希望の講習にチェックを入れてください) 
 ■講義
   粉末X線回折・小角散乱測定 (平成24年1月18日(水)10:00~12:00) 
   薄膜X線回折        (平成24年1月19日(木)10:00~12:00) 
 ■実習
   実習A:インプレーン光学系を用いた薄膜X線回折(平成24年1月19日(水))
    13:00~15:00 (定員に達しました)   15:15~17:15 (定員に達しました)
    実習B:集中光学系・平行ビーム光学系を用いた粉末X線回折 (平成24年1月18日(水)13:00~15:00)(定員に達しました)
    実習C:小角散乱配置によるX線小角散乱測定 (平成24年1月18日(水)15:15~17:15)(定員に達しました)