透過型電子顕微鏡（TEM）は、試料の微細構造をサブナノメートルの分解能で観察できる装置です。
試料の形状や表面構造に加え、格子欠陥や結晶の配向などについても知ることができます。
今回のセミナーでは、TEMの基本的な原理や操作方法、試料の前処理などについて、初心者にもわかりやすい講義・実習を行います。また、応用測定実習として実際に研究対象としている試料についても実習を行います。

本セミナーで用いる日立 H-7650は全学共同利用機器として登録されており、「リユース機器共同利用システム」を通じて、全学のどの部局からでも利用できます。ぜひご利用ください

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